如何根据存储架构编写测试方案？
看到各位专家对如何考虑和选择基于SVC的存储进行了内容丰富的分享。有一个问题想请教一下，就是在新设计的存储架构下，如何确定故障场景、编写测试方案，才能保证遍历所有隐患、不缺不漏，全面测试呢？
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故障场景很多，可以分两大块，一块是故障转移测试，一块是性能测试
像故障转移测试，从下至上，分门别类的测试，分别是存储、SVC、SAN，存储的话，比如说主控、HBA卡，光纤线等，SVC节点的话，比如说SVC节点，SVC I/O GROUP，仲裁节点，存储节点，SVC光纤线，SVC FC卡，SVC集群等，SAN的话，比如说SAN节点，级联链路，链路抖动，光衰等等。
像性能测试，可以对整个存储架构，进行随机4/8/16/32KB读写测试，顺序4/8/16/32KB读写测试，并且考虑两个站点的主机各自的性能测试。
一般这个在做POC的时候，可以请IBM原厂labservice来协助完成，它们更有测试经验。
- 请问您是在准生产环境或是上生产之前做测试吗？如果想验证生产环境的话，有哪些要点需要注意？
- 上之前做POC，原厂都会支持的，他们会提供设备
- 上之前做POC，原厂都会支持的，他们会提供设备 如果在生产环境做验证，那得有停机时间，先把测试场景做好，然后需要知道要监控的关键点，并在测试中及时记录下来，测试完之后要恢复原状，测试时，你要对SVC非常清楚，知道怎么去模拟测试那些点。
- 谢谢指导